SOC710SW 短波紅外成像光譜儀是一款高質量、高性能的儀器，光譜范圍為900nm～1700nm。
SOC710SW具有高光譜分辨率 (5 nm), 輕度光譜失真 (<1.5 nm)成像分光計和高靈敏度的InGaAs 探測器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W)，使得SOC710SW可以14-bit同時收集640像素、128個波段的光譜信息。這保證了所有應用里，獲得的是最高質量數據。
使用簡單和實時處理
SOC710SW是一個完整的系統(tǒng)，開箱之后即可使用。
系統(tǒng)采用SOC的HyperSpect™ 操作軟件和HSAnalysis™校準和分析工具進行標定和使用前設置。
數據以開放的BIL二進制格式保存，可以兼容第三方分析軟件。無需額外的掃描儀或軟件。
可選的SOC MIDIS™處理器以最優(yōu)的電腦速度快速執(zhí)行光譜處理，克服了大部分成像光譜儀在實時數據處理方面的瓶頸。
MIDIS處理器具有多個相關通道同時監(jiān)測測量數據和三光譜積分，使得MIDIS處理器有能力克服當今數據處理的難題。
配備了一個高質量的成像分光計、標定和分析軟件、高速低噪InGaAs線列和完整的掃描系統(tǒng)，SOC-710SW通過高速USB接口可以記錄 900nm到1700nm光譜范圍內、5nm分辨率的高質量光譜成像數據。靈敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。
SOC的HS分析軟件可以用來進行標定和數據分析。記錄的數據格式為開放式的二進制數據，可以很容易的用第三方分析軟件打開，如ENVI軟件。無須數據格式轉換。
技術參數：
| 光譜范圍： | 900-1700 nm |
| 光譜分辨率： | 5 nm |
| 光譜通道： | 128 |
| 光譜失真： | <1.5 microns (smile) |
| 數字光圈： | F/2.4 |
| TFOV/IFOV (35MM)： | 10°/0.015625° |
| 分辨率(像素)： | 640640 (nominal) |
| LINE RATE： | 30 Spatial Lines/Second |
| CUBE RATE： | 20 Seconds/Cube |
| 數字分辨率： | 14-bit |
| 三腳架： | 3/8”-16 |
| 計算機接口： | USB2.0 |
| 掃描： | 內置 |
| 供電： | AC/12DV |
| 重量： | 10 lbs. |
| 尺寸： | 5”x8”x11” |
應用領域：
| 機械視覺 電子學和塑膠 晶片檢查 農業(yè)品質 化學過程控制 農業(yè)領域 精準農業(yè) 土地分類 水份脅迫 作物健康 |
溫度記錄 火點監(jiān)測 玻璃檢測 金屬純度 軍事 ISR 邊境安全 導彈跟蹤 醫(yī)學領域 血糖分析 X線斷層攝影術 |
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